Современные промышленные микроскопы предоставляют широчайшие возможности для лабораторных исследований. Оптическая микроскопия позволяет получать многократное увеличение исследуемого объекта, выводить изображения на экран компьютера, сохранять снимки и проводить автоматизированный программный анализ изображения. Все это находит применение в медицине, машиностроении и образовании.
В каталог включены микроскопы:
- прямые. Позволяют проводить исследования в прямом и отраженном светес диапазоном увеличения от 12,5 до 1500 крат. Исследуемая поверхность находится под объективом. Доступные методы контрастирования – светлое поле, темное поле, ДИК, поляризация, флуоресценция, MIX, DDF, фазовый контраст.
- инвертированные. Оптическая схема инвертированного микроскопа подразумевает расположение образца над объективом, при этом исследуемая поверхность направлена вниз. Такая схема позволяет наблюдать в фокусе всю исследуемую поверхность крупных образцов при больших увеличениях. Основное применение таких микроскопов – материаловедение и металлорграфия.
- стереомикроскопы. Применяются для изучения макроструктуры поверхности, сварных швов, изломов, дефектов. Среди таких микроскопов представлены модели с небольшим увеличением, до 100 крат, однако благодаря специальной оптической система такие микроскопы формируют трехмерное изображение при наблюдении через окуляры, чем отличаются от классических оптических и электронных микроскопов. Эргономичные передвижные штативы позволяют использовать стереомикроскопы при исследовании крупных объектов, которые невозможно расположить на столе.
- инспекционные. Применяются в микроэлектронной промышленности для контроля качества полупроводниковых пластин, микросхем, дисплеев, светодиодов.
- измерительные микроскопы. Предназначены для проведения линейных и угловых измерений по осям X, Y, Z инструментов, деталей механизмов и микроэлектронных компонентов.
- поляризационные. Представляют собой разновидность оптических прямых микроскопов, предназначенных для исследования структуры руд, полимеров, минералов, кристаллов и других объектов в поляризованном свете по методам орто- и коноскопии.
- конфокальные. Предназначены для контроля качества микроэлектронных компонентов, инструментов, исследования топографии поверхности, оптических свойств прозрачных покрытий. Могут применяться в качестве лазерных профилометров, измерительных и инструментальных микроскопов. Основным отличием является разрешение по оси Z 6 нм и по осям X Y – 120 нм.
- цифровые. Представлены несколькими моделями, которые могут быть использованы в качестве микроскопов для материалографии и контроля качества микроэлектронных компонентов. Отличаются моторизацией всех органов управления микроскопом (столик, зум, оптическая система), что позволяет упростить и ускорить процесс исследования на металлографическом микроскопе и обеспечить наивысшую повторяемость результата.
- портативные. Используются для изучения крупных объектов, из которых невозможно изъять образец для исследования в лаборатории с помощью стационарного прибора.
